ICP型エッチング装置内のプラズマ解析
計算条件
参考文献:M. Shiozawa and K. Nanbu,"Coupling of plasma and flow in materials processing", Thin Solid Films, Vol.457,pp.48-54,2004計算結果
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電子密度
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電子温度
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電位分布
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EEDF(電子エネルギー分布関数)
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パワー吸収分布
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|Eθ|電界分布
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Cl2(+)イオン密度
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Cl(+)イオン密度
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Cl(-)イオン密度
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Cl2密度
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Cl密度